超声波涂层测厚仪

超声波涂层测厚仪常见问题解决测量前应清除被测物体表面所有的灰尘、污垢及锈蚀物，铲除油漆等复盖物。过份粗糙的表面会引起测量误差，甚至仪器无读数。测量前应尽量使被测材料表面光滑，可使用磨、抛、锉等方法使其光滑。还可使用高粘度耦合剂。  测量圆柱型材料，如管子、油桶等，超声波非接触式涂层测厚仪，选择探头轴线与被测材料轴线相交时为情况。简单地说，将探头与被测材料耦合，然后围绕被测物轴线转动探头或者垂直于被测物轴线平行移动探头，使探头延迟块的中线与被测物接触，选择稳定的读数，作为材料的准确厚度。对于不同直径的被测物选用不同的延迟块对测量会有帮助的。可以在被测物表面蒙上一块细砂纸，然后前后移动探头，会很容易就把在探头延迟块前端磨出圆弧。

超声波涂层测厚仪

超声波涂层测厚仪示值失的确预防措施及疑难问题：由以上导致示值失的确直接原因，超声波涂层测厚仪供应，在现场检测中就应采取措施防范措施，进行事前积极避免，避免造成 安全风险或不必要的铺张浪费。因而，根据2年来的检测工作经历，归纳总结下列好多个层面，作为避免超音波测厚示值失的确预防措施。1、适当选用测厚探头（1）测曲面钢件时，选用曲面探头护线套或选用小管经专用探头（φ6mm），可较的测量管道等曲面原料。（2）对于结晶粗大的铸铁件和马氏体不锈钢板不锈钢板材等，应选用頻率较低的粗晶专用探头（2.4CHz)。（3）测量溫钢件时，应选用高温专用探头（300－600℃)，切勿运用一般探头。

第二代仪器，采用的是“界面——回波”技术.

即，事先剔除脉冲信号从晶振片开始到被测物表面的时间；

这种技术的出现，其目的本来是为了剔除“晶振片到探头保护膜的距离”给测厚带来的误差，事实上，这个“距离”，与要测的厚度通常不在一个数量级上，因此，其适用性只在一个很窄的范围内才有意义。这种技术自本世纪初，在国外的仪器中开始有大量的应用，但作为一种“权宜之计”的过渡技术，很快被跨越，不到五年的时间，就让出了它的“优越地位”。

第三代仪器，采用的是“回波——回波”技术。

即，以“次底面回波”和“第二次底面回波”的时间差为基础来计算厚度；这种技术，超声波涂层测厚仪，与“界面——回波”技术有相同的地方，即，都不用考虑“晶振片到探头保护膜的距离”带来的测量误差，但同样，只在小范围内才有适用意义。

这种技术得以应用，其更大意义在于：该技术改变了仪器的电路结构，使得仪器可以给换能器（探头）更大的能量、并能更好地分检回波信号，因此，应对“信号衰减”，采用这种技术的仪器比前两代仪器有了质的提升；也因此，“回波—回波”，成了迄今为止先进超声波测厚仪共同的技术基础。

第四代仪器，采用的是“A扫描信号测厚”技术。

前面三代都是“读数型测厚仪”，不管读哪几次波，*终都是靠事先设定的程序由仪器来判定和计算的。而“A扫测厚仪”则是将所有的信号都显示在屏幕上，由操作者自行判断、并且可以计算任意两次波的时间差，也就是说，将测量的主动权交给了操作者，这对于分析型测厚、以及杂波信号较多的测厚非常有帮助；

第五代仪器，采用的是单晶探头。

前面四代测厚仪，使用的都是双晶探头（只有在超薄件测厚中，才有专门的机型使用高频单晶探头），而双晶探头，由于晶振片排列的结构性因素，超声波的传递呈现出一个“V”型路径，狄夫斯高超声波涂层测厚仪，这意味着，晶振片发射和接收信号的有效面积势必受到“V”路径的影响，也就是说，每个双晶探头的测厚范围受晶振片直径、晶振片斜角的影响较大。 

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